仪器地点

404

台式扫描电子显微镜 空闲
品牌 赛默飞
型号 Phenom ProX
类型 微区及表面分析
所属单位 河南能源研究总院
业务部门 新材料研究所
仪器负责人   吴晓冉
性能指标 (1)光学显微镜放大倍数:27-160X 电子显微镜放大倍数:350000X; (2)分辨率:≤ 6 nm (SED);≤ 8 nm (BSD); (3)高灵敏度背散射电子探测器,二次电子探测器; (4)加速电压:5 kV-20 kV 连续可调; (5)能谱:元素范围B(5)-Am(95);
主要应用 利用聚焦电子束扫描样品表面,通过检测二次电子和背散射电子等信号,获得高分辨率形貌、成分(配合能谱)及结构信息,适用于金属、陶瓷等材料微观分析。
样品要求 (1)受样品台限制,样品尺寸直径<25mm、高<35 mm; (2)样品无磁性; (3)样品干燥,确保真空环境下无挥发性物质产生; (4)热稳定性好,电子束可能使不耐热样品(如某些塑料)变形或分解;
仪器说明 /
备注 /
检测项目 检测项
测试项目
形貌测试、元素EDS分析(不含喷金) 【内部:150.00元】/样品     【外部:300.00元】/样品
形貌测试、元素EDS分析(喷金) 【内部:180.00元】/样品     【外部:350.00元】/样品

分析测试中心地址:郑州市金水区东三环与金城大道交叉口向东300米邮编:450000

技术支持:焦作煤业(集团)有限责任公司信息通信技术分公司

推荐使用 Microsoft Internet Explorer 9.0 及以上版本浏览器 隐私保护 版权声明